1. 소프트웨어

》일반사항
- 데크스탑 또는 노트북PC의 USB 포트를 통해서 IviumStat/CompactStat 제어
- 마이크로 소프트 윈도우 기반의 편리한 유저 인터페이스
- 전기화학 일반 실험 테크닉 내장
- high speed 테스트와 high sensitivity 테스트를 위한 자동 최적화
- 편리한 데이터 작업 및 분석


》캡쳐 스크린


》실험 방법 선택 창 - 다양한 실험 테크닉을 선택할 수 있습니다.



》실험조건 입력창 - 실험조건을 입력 및 수정할 수 있습니다.



》데이터 표시창 - 3차원 그래프, 축변경, 분석등



》빠른 실험, 매우 민감한 실험에 대해 자동 최적화 기능
- 아이비윰의 특별한 기능으로 높은 전류 분해능 손꼽을 수 있습니다. 이는 펨토 암페어(femto-amperes, 10^-12 A) 단위 측정을 가능하게 합니다. 그러나 이런 경우 데이터 분해능은 주변 환경에 또한 민감하게 영향 받습니다. 아이비윰스탯은 주변환경의 영향을 최소화 하고, 검출 신호의 퀄리티(quality)를 높이기 위해서 다음 과정을 자동 실행 합니다.
- 전압/전류 bandwidth 최적화
- 아나로그 signal filters
- 디지털 필터링
- 자동 옵셋 처리 (Automatic offset subtraction)
본 소프트웨어는 자동으로 최적화 세팅을 수행하여, 신뢰도 높은 데이터를 제공 합니다. 또한, [고급모드] 에서는 이와 같은 작업을 실험자가 직접 지시할 수 도 있습니다.

2. 소프트웨어 분석 솔루션 (Corrosion Analysis)

》세가지 분석법 제공
- 기울기 분석 : Ecorr와 Rp 는 OCP에서 직선의 기울기로 부터 구해 집니다.
- 타펠 분석 : 타펠 그래프로 부터 직선의 기울기와 타펠 상수를 구합니다.
- 수치해석 : 비선형 영역에 대한 fitting 을 수행합니다.

》자동 또는 수동 분석- 자동분석 : 소프트웨어가 자동으로 적절한 Potential 범위를 잡아 분석해 줍니다.
- 수동분석 : 실험자가 직접 마우스동작을 이용해서 Potential 범위를 잡아 분석합니다.




》자동분석 창



》자동분석창 II
 

3. 임피던스 분석 솔루션 (Equivalent circuit analysis)

- 실험자는 다양한 등가회로를 표현할 수 있습니다.
- 위쪽 툴바의 회로 요소를 마우스 클릭하여 회로를 구성합니다.
- 이미 제공되는 회로를 선택할 수도 있고, 저장된 회로를 불러 올 수도 있습니다.
- 시작값은 실험자가 직접 입력 가능하며, 또한 자동 계산도 가능합니다.
- 특정값 Fix 기능도 있습니다.
- 최적화 방법으로 Levenberg-Marquardt algorithm를 사용합니다.

*참고 Levenberg-Marquardt algorithm
http://www.answers.com/topic/levenberg-marquardt-algorithm

4. 특별한 기능 (Special functions)

- 전류범위 자동 선택 : 기기가 테스트를 수행중에 가장 적절한 전류범위를 선택해 줍니다.
- 전처리 : 최대 5단계에 걸쳐 실험 시작전 전극 상태를 조절할 수 있습니다.
- OCP (Open Circuit Potential) 지원 : OCP 데이터 저장
- Ohmic drop 보정
- 8개의 아나로그 신호를 입력 받아 화면에 표시 및 저장할 수 있습니다.
- Safety disconnect: at overload, the method is aborted and cell terminals are disconnected.
- Compliance limit: currents/potentials are limited to operator defined values. The instrument maximum capability can be lowered to prevent unsafe situations(IviumStat only).
- Signal view: the current and potential transients is shown in an oscilloscope type screen. During ac- techniques, the quality of the perturbing and resulting sine-waves is visualized. Under dc-conditions, the E/I signals can be inspected for the presence of specific noise elements.